Bengkel Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry (TXRF) untuk Analisa “Ultra Trace Element”  

20 Februari 2023 – Pusat Penyelidikan Sains dan Kejuruteraan (SERC) bekerjasama dengan Inno Lab Engineering Sdn Bhd telah berjaya mengadakan bengkel Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry (TXRF) di Bilik Seminar, SERC. Bengkel ini berlangsung selama dua hari dan dihadiri oleh 37 orang peserta daripada pelajar postgraduate, pensyarah dan juga pihak luar.

Penceramah untuk bengkel ini adalah Dr. Hagen Stosnach, Senior Application Scientist in TXRF Technique dan Dr. Nigel Kelly, Global Market Segment Manager daripada Bruker Nano Analytics.  Mereka memberi pengenalan dan penerangan mengenai fungsi, penggunaan, aplikasi serta cara penyediaan sampel TXRF. Peserta juga membawa sampel untuk dianalisa pada hari kedua bengkel ini. Dr Hagen menganalisa sampel tersebut dan terus memberi interpretasi bagi setiap keputusan kepada peserta.